Zeiss Sigma 300 FESEM (Field Emission Scanning Electron Microscope) berendezésünk alkalmas különböző gyártási, vagy használatból fakadó hibák feltérképezésére, acél vagy egyéb fémek szövetszerkezetének elemzésére, polimerek, ásványtani minták, valamint bevonatok vizsgálatára akár 1 nanométeres felbontásig.
A GEMINI technológiának köszönhetően akár előkészítés nélkül mérhetők szigetelő vagy mágneseződő minták is. Gépünk 1.000.000x-os nagyítást, is képes alkalmazni a vizsgálatok során, így a legapróbb részletek sem kerülhetik el figyelmünket! Az új EDAX Octane Elite EDS detektorral másodpercek alatt információ nyerhető a vizsgált minták elemösszetételéről. Az alkalmazott Si3N4 ablaknak köszönhetően a hagyományos detektorokkal szemben már kis atomszámú elemek is nagy pontossággal mérhetők. Mikroszkópunk segítségével publikációs minőségű felvételeket készíthetünk megrendelőink számára.
